荣获苏州科技局推荐参与2008年世界发明大会参展 时间:2008-10-25 19:12:08 作者:科迪氏 浏览:2,660 views 字号:大 中 小 2008年10月,科迪优势潜能测评技术再度参与世界级展出,并于发明成果对接会议中报告。 微信“扫一扫”分享至朋友圈 分享: 打印本页 复制链接 上一篇: 【转】以科学的态度认识“皮纹检测多元智能” 下一篇: 科迪氏优势潜能测评技术再度荣获国家级肯定 相关文章 科迪氏优势智能采样系统2.0发布 再创业界新高度:便携式滚动指纹采样系统 远距离采样研发成功 山东青岛检测中心咨询师培训 以客观中立的角度来看待皮纹学科 皮纹检测: 几篇关于皮纹研究的参考资料 皮纹检测讲座-镇江幼儿园特邀台湾专家来园专题讲座 最新发现:皮纹决定人类脑力与智商